LAM-A泛胜叶面积仪
LAM-A泛胜叶面积仪是一种使用方便、可以在野外工作的便携式仪器。可以精确、快速、无损伤地测量叶片的叶面积及相关参数,也可对采摘的植物叶片及其它片状物体进行面积测量。
LAM-D拍照式叶面积仪
LAM-D拍照式叶面积仪由图像采集设备和图像处理软件组成,采用本公司新开发的图像识别软件,根据叶片轮廓特征提取、图形实物转换、边缘检测等技术,能够形象并快速得到所测叶片面积、周长、虫洞数量等参数。
泛胜DDY微电脑茎秆强度仪
泛胜DDY微电脑茎秆强度仪采用针刺、压碎、折断三种不同探头分别测量茎秆穿刺,压碎、和弯曲强度,茎秆断裂或者屈服瞬间产生的最大力,即茎秆的强度。